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雷達物位計非接觸式和接觸式的區(qū)別

時間: 2020-10-13 瀏覽次數(shù):2123

  非接觸式雷達物位計:
 原理:發(fā)射到儲罐的微波信號從物料表面反射回來,通過測量信號發(fā)生到接收的時間或頻率差值,得出物料的物位高度。
 適用于腐蝕性強,無菌等惡劣過程工況;
 適用于不同過程條件下的儲罐,反應釜和過程罐;
 適用于精度要求很高的計量場合。
 優(yōu)勢:對液體、顆粒及漿料連續(xù)物位測量。雷達物位計的測量不受介質、溫度、惰性氣體、蒸汽、粉塵、泡沫等的影響,適用于爆炸危險區(qū)域。
 應用:不與介質直接接觸,安裝方便。測量固體物量時不必考慮物料對天線的影響。能滿足復雜工況的要求。例如:強粉塵、泡沫、結露、結晶等特殊環(huán)境。


   接觸式雷達物位計:
 原理:沿導波桿向下引導微波脈沖到達物料后,部分信號被反射回來,通過測量信號發(fā)射到接收的時間差得出物位。
 適用于小量程儲罐,幾何形狀和內部有障礙物的復雜儲罐。
 適用于帶有蒸汽,附著物,起泡,冷凝水的應用場合。
 優(yōu)勢:在一些特殊工況導波雷達有明顯的優(yōu)勢如:罐內有攪拌,介質波動大,這樣的工況用底部固定的導波雷達測量值要比變通雷達穩(wěn)定;還有小罐體內的物位測量,由于安裝測量空間小(或罐內干擾物較多),一般普通雷達不適用,這時導波雷達的優(yōu)勢就顯現(xiàn)出來了;再有是低介電常數(shù)的工況,無論雷達還是導波雷達測量原理都是基于介質介電常數(shù)差別,由于普通雷達的發(fā)射的波是發(fā)散的,當介質介電常數(shù)過低時,信號太弱測量不穩(wěn)定,而導波雷達波是沿導波桿傳播信號相對穩(wěn)定,另外一般的導波雷達還有底部探測功能,可以根據(jù)底部回波信號能測量值加以修正,使信號更為穩(wěn)定準確。
 用途:應用于水液儲罐、酸堿儲罐、漿料儲罐、固體顆粒、小型儲油罐。如:煤倉、灰倉、油罐、酸罐等。

 

江蘇萬德儀表